引言：
在物联网时代背景下，智能家居、可穿戴设备以及车联网等领域均被行业圈子推向了高潮。如今各大领域技术几近成熟，各类应用也逐步普及，科技生活已近在咫尺！
那么问题来了，物联网发展如此之快的推手是谁？相信非无线通信技术的快速发展是基本要素，撇开各大国际半导体厂商的肉搏之战不说，广大群众的生活已经离不开蓝牙、WiFi等无线连接技术。因此，这其中商机不容小觑，国内厂商如何把握市场机遇呢？如何设计优秀智能产品？本次活动资深专家将以市场、技术两大方向为你解答疑惑。
（具体嘉宾信息将逐步更新）
-芯片设计工程师及部门主管
-芯片测试工程师及部门主管
-Verification 及 Qualification 部门工程师
-其他IC业内人士
1.实验室到量产——物联网背景下半导体测试总体成本的优化
2.蓝牙低功耗测试方案及案例
3.基于向量的数字通道板卡使用技巧
4.灵活开发NISMU完成源表测试挑战
Demo演示：
1.PatternBasedDigital+5171FlawDetection
2.BLETestingDemo
活动主办方：美国国家仪器
美国国家仪器，世界上最大领先的硬件电子测试测量仪器公司。提供丰富的工具软件，如LabVIEW，AWR，以及高性价比的模块化硬件，覆盖IC从研发到量产的全产业链测试与仿真需求。40多年来，美国国家仪器公司(NI)帮助测试、控制、设计领域的工程师与科学家解决了从设计、原型到发布过程中所遇到的种种挑战，提供大量的软件，硬件，覆盖IC全产业链测试与仿真需求。在缩短产品问世时间的同时有效降低开发成本。如今，NI为遍布全球各地的35,000家不同的客户提供多种应用选择，在RF芯片设计和测试方面具有丰富的经验和专业知识。
联合主办： IC CAFE 相约张江
【时间】：2016年11月24日，13:00-17:30
【地点】：上海浦东新区碧波路635号传奇广场3楼IC咖啡，近地铁2号线张江高科站5号口（祖冲之路松涛路）
【路线】：地铁2号线5号口出，穿过“黑暗料理小吃”，传奇广场坐电梯到3楼即达（交通银行和中国银行之间）；自驾，松涛路路口进，1楼三和面馆旁电梯上
【费用】：免费（提供茶歇）
【报名】：点击下方"阅读原文"即可参与报名
注：活动限半导体行业相关工作人员参加（限额80人），因主办方将进行人员筛选，请认真填写报名信息，信息填写不完整及行业属性不相关者，不在邀请范围内，请悉知。入场请出示通知短信并携带名片。